美国高精度非接触测厚仪，基于白光干涉原理，可快速测量12微米-80 mm透明材料厚度，精度0.1 m，可测量单层和多层(20层)厚度，可选多探头配置，内部自校准，NIST溯源。
操作原理
这种光学探头通过透明、半透明或有色材料将1310nm的不可见红外光反射回OptiGauge，并将每个内表面的反射送回OptiGauge。在OptiGauge中，高级软件通过易于操作的图形界面提供实时分析。
主要特点
测量范围12米-16毫米
精度0.1微米
以及单层和多层测量
探头的灵活配置
连续内部校准
NIST跟踪
桌面或机架安装
典型应用
医疗-气囊、导管(壁、内径、外径)
玻璃-汽车、浮板、平板、电子显示器、光学(厚度、内层)
眼科-隐形眼镜和人工晶状体(ct，SAG)
工业—薄膜、涂层、包装、粘合剂、阻挡层(厚度)
OptiGauge核心单元
标签：厚度光学材料